晶圓級可靠性-蘇州聯訊儀器股份有限公司

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晶圓級可靠性

晶圓級可靠性(Wafer Level Reliability)測試技術可用于提供有關半導體工藝產品可靠性的快速反饋工藝控制信息，晶圓級可靠性測試的目的是測量構成半導體器件的材料的變化。

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