登錄
簡體中文
English
首頁
產品中心
產品中心
光網絡測試
采樣示波器
時鐘恢復
突發誤碼分析儀
通用誤碼分析儀
網絡測試儀
波長計
通用光儀表
高速光模塊測試機
電性能測試
臺式源表
PXle插卡式源表
低漏電開關矩陣
半導體參數測試
光芯片測試
激光器測試
激光器老化
硅光晶圓測試
功率芯片測試
功率芯片測試
晶圓級可靠性
解決方案
解決方案
數據中心
電信網絡
新能源
半導體
硅光子
元宇宙
支持中心
支持中心
售后服務
常見問題
新聞中心
新聞中心
公司新聞
展會信息
關于聯訊
關于聯訊
公司簡介
發展歷程
社會責任
榮譽資質
加入我們
人才招聘
聯系我們
聯系我們
聯系方式
在線留言
Site Map
網站地圖
網站首頁
產品中心
光網絡測試
電性能測試
光芯片測試
功率芯片測試
解決方案
數據中心
電信網絡
新能源
半導體
硅光子
元宇宙
支持中心
售后服務
常見問題
新聞中心
公司新聞
展會信息
關于聯訊
公司簡介
發展歷程
社會責任
榮譽資質
加入我們
聯系我們
聯系方式
在線留言
首頁
產品中心
光網絡測試
電性能測試
光芯片測試
功率芯片測試
解決方案
數據中心
電信網絡
新能源
半導體
硅光子
元宇宙
支持中心
售后服務
常見問題
新聞中心
公司新聞
展會信息
關于聯訊
公司簡介
發展歷程
社會責任
榮譽資質
加入我們
聯系我們
聯系方式
在線留言
English
您的當前位置:
首頁
>
產品中心
>
電性能測試
>
半導體參數測試
>
半導體參數測試
WAT(Wafer Acceptance Test) 支持48通道SMU/Pin Board/全Pin并行測試 兼容容行業探針卡結構,支持所有類型的通用探針臺控制 自研亞pA級精度源表 支持串行和并行兩種測試方案
型號
產品名稱
描述
WAT6200S
點擊查看詳情>
WAT串行參數測試系統
聯訊儀器WAT串行參數測試機臺 WAT6200S是一臺串行半導體參數測試系統。
可靈活配置Pin數,最多支持48Pin,兼容市場主流WAT程序探針卡、應用等。
WAT6200P
點擊查看詳情>
WAT并行參數測試系統
WAT6200P 是一臺并行半導體參數測試系統,整套系統滿配24個SMU。
聯訊儀器使用自主可控的SMU技術,性能穩定,交期可控,國產自研,適用于半導體行業的WAT測試。
郵箱
sales@semight.com
服務熱線
0512-68784483
關注
返回頂部
×
登錄后
立即下載!
郵箱地址
驗證碼
立即登錄
登錄后
立即下載!
賬號
密碼
立即登錄
忘記密碼
注冊賬號
注冊賬號
立即下載!
姓名
請輸入您的姓名
*
郵箱地址
請輸入您的郵箱地址
*
郵箱驗證碼
請輸入您的郵箱驗證碼
獲取驗證碼
電話
請輸入您的聯系電話
*
密碼
請輸入您的登錄密碼
*
確認密碼
請再次輸入您的登錄密碼
*
立即注冊
找回密碼
郵箱地址
請輸入您的郵箱號
*
郵箱驗證碼
請輸入您的郵箱驗證碼
獲取驗證碼
新密碼
請輸入您的登錄密碼
*
確認密碼
請再次輸入您的登錄密碼
*
提交
啪啪啪视频高清