半導體激光器通常根據老化前(Pre-Burn In)及老化后(Post Burn-In)測量的一個或多個關鍵運行參數的變化進行篩選,剔除早期失效,提高產品可靠性,這些參數通常包括閾值電流,在特定工作條件下的輸出光功率,達到特定輸出光功率所需要的電流,斜線效率以及光譜特性等等。
聯訊儀器CoC測試
聯訊儀器全自動CoC測試系統CT6201 ,與聯訊儀器 BI6201老化系統共用夾具,降低了被測芯片上下料的流程,同時也消除了上下料過程中EOS/ESD潛在風險以及CoC產品外觀不良的引入。
專利光功率耦合系統設計,確保了光學耦合和光譜測量的快速性和重復性。
特有的雙測試載臺設計,每個載臺可以獨立溫控,節省升降溫等待的時間,配合 CoC 夾具雙側并行測試,大大提高了測試效率。
產品特點及優勢
1測試效率高
雙測試載臺設計
每個載臺可以獨立溫控
同時支持雙側并行測試
自動對比老化前后參數變化量,并給出判定
2測試速度快
每個CoC(DFB)測試時間<7s
快速升降溫
3 特殊夾具設計
上下夾具設計,
老化測試過程中上下不分離,
避免多次壓接,提高上電通電率
全自動測試,調高測試效率,
避免人工取放夾具引入的外力損傷
測試夾具與自動上下料系統AL6201/
老化系統BI6201共用
無EOS產生
4聯訊自研高精度源表
I/V 源分辨率,10fA/100nV
I/V 測量分辨率,10fA/100nV
支持直流或者脈沖電源驅動激光器
5專利設計光耦合系統
確保了光學耦合和光譜測量的快速性和重復性
6測試重復性高
閾值電流重復性<±0.5%;
功率重復性<±1%
波長重復性<±0.05nm;SMSR重復性 <5dB
7規模化應用
聯訊CoC老化測試解決方案
聯訊儀器提供CoC/CoS上下料,測試以及老化完整解決方案,適配不同測試溫度要求,不同尺寸,不同類型半導體激光器,極大地提高了測試效率,降低了測試成本!
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