半導體激光器是光收發模塊核心器件，其穩定性直接影響模塊的產品質量，CoC老化測試是一種有效的剔除早期CoC產品失效的篩選方法。聯訊儀器CoC老化測試設備通過控制老化溫度，老化電流，老化時長等測試條件，對老化前后的激光器功率變化，閾值變化等進行評估，將產品設計制造中的材料缺陷，加工缺陷等及早篩選出來，提高了進入后端工序的產品的可靠性！

  聯訊儀器CoC老化

聯訊儀器BI6201老化測試系統是高密度、多功能、專門針對半導體激光器芯片老化壽命驗證的測試系統。

系統采用主框架和大單層的結構，通過集成多通道驅動電源、溫度控制器、實時的數據采集功能，標準化的抽屜和靈活的夾具配置顯著降低了系統成本。

定制化的測試夾具，適合不同尺寸的CoC（Chip on Carrier）、CoS（Chip on Submount）以及TO-CAN等各種封裝類型的半導體激光器。

產品特點及優勢

1容量大

滿系統共11層，每層4個操作單元（小抽屜）

單系統最大支持4224pcs DFB CoC 同時老化，

產能基于客戶需求做彈性配置

2配置靈活

針對不同的產品封裝形式，提供靈活的夾具配置；

CoC封裝推薦魚骨型夾具，

可以支持CoC在魚骨夾具上打金線；

不同的器件類型，

只需要更換不同抽屜（或者測試夾具）

3兼容TO抽屜式老化

與CoC老化兼容，僅需要更換TO夾具和小抽屜

不同管腳定義的TO，支持引腳定義切換

支持TO前光功率監控

4優異的溫度控制結構

每個夾具具有獨立的加熱、控溫、監控及散熱單元

5強大的驅動電源

整個系統最高支持4224路4象限SMU驅動電源

支持自動電流控制模式

自動功率控制模式

6滿足不同測試需求

支持在線監控功率

支持完整的LIV或者EA掃描

支持Ith、DC ER分析功能

7豐富的軟件功能

老化過程中監控每個器件的狀態信息

支持數據庫數據存儲及查詢溯源測試結果

集成快速檢查功能，

方便快捷地檢查每臺設備的信息

8完善的保護措施

無電流電壓過沖

無EOS

電流和電壓閾值保護

通道間絕緣（Isolation）與靜電（ESD）保護

9規模化應用

廣泛應用DFB/EML/DBR激光器的老化篩選

聯訊CoC老化測試解決方案

聯訊儀器提供CoC/CoS上下料，測試以及老化完整解決方案，適配不同測試溫度要求，不同尺寸，不同類型半導體激光器，極大地提高了測試效率，降低了測試成本！