特點
兼容性好
與BI6206高功率激光老化系統共用一塊測試板;測試效率高
支持批量輸入輸出重復性好
光學測量重復性高;支持工業低溫
可選擇低溫-40℃測試;功能與優勢
系統功能與優勢
四工位串行測試增加測試效率系統參數 | 芯片類型 | 所有高功率CoC/CoS激光器 |
夾具類型 | 兼容BI6206老化系統夾具 | |
上下夾具 | 自動上下夾具 | |
夾具ID掃描識別 | 自動夾具Barcode掃描識別 | |
并行測試 | CoC夾具雙側面并行測試 | |
標準樣品控制 | 軟件支持標準樣品管控功能。如果標準樣品在本機臺測試超過時間周期(可配置),系統自動告警 | |
測試機臺控制 | 軟件支持測試機臺管控功能,如果相同夾具在老化前后分別在不同的測試機臺進行測試,軟件會自動產生告警提示。 | |
測試配置管控 | 軟件支持測試配置管控,包括測試儀表,測試算法,測試序列,測試結果判斷等。 | |
測試數據 | 支持用戶要求的所有測試數據/支持MES相關的需求 | |
電學指標 | SMU類型 | 標準精密源表 |
直流電流 | 3A | |
I/V 源分辨率 | 500nA/100mV | |
I/V 測量分辨率 | 500nA/100mV | |
電壓范圍 | 70V | |
脈沖電流 | 10A | |
EOS | 無EOS(任何正常操作和使用條件下) | |
光學指標 | 光功率測量探測器類型 | InGaAs |
光功率波長范圍 | 1200-1700nm(可擴展到700~1700nm) | |
光功率測量范圍 | 5mW-5000W | |
光功率測量精度 | <0.2dB | |
光譜測量范圍 | 集成橫河AQ6360 或其它光譜儀 | |
光譜測量精度 | ||
光功率耦合效率 | 耦合功率>-15dBm | |
溫度控制指標 | 溫度控制方法 | TEC+水冷系統 |
溫度區域 | 4個獨立的溫度控制區域 | |
溫度范圍 | 25-100℃ | |
溫度變化速度(升溫/降溫) | 8℃/分 | |
溫度分辨率 | 0.1℃ | |
溫度精度 | <±0.5℃ | |
溫度一致性 | <±0.5℃ | |
溫度穩定性 | <±0.1℃ | |
測試參數 | Ith重復性 | ±1% |
功率重復性 | ±2% | |
SE 重復性 | ±2% | |
VF 重復性 | ±3% | |
波長重復性 | <±0.1nm | |
SMSR 重復性 | <2.5dB |
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