聯訊儀器 CT6201 是全自動的 CoC 測試系統-蘇州聯訊儀器股份有限公司

激光器測試

CT6201-DC

CoC測試系統

聯訊儀器 CT6201 是全自動的CoC測試系統，便捷高效使其成為 CoC大規模量產的最佳選擇。采用和聯訊儀器 BI6201 相同的測試夾具，降低了被測芯片上下料的流程，同時也消除了上下料過程中EOS/ESD潛在風險。專利設計的光功率耦合系統設計，確保了光學耦合和光譜測量的快速性和重復性。特有的雙測試載臺設計，每個載臺可以獨立溫控，節省升降溫等待的時間，配合 CoC 夾具雙側并行測試，大大提高了測試效率。

手冊CN

手冊EN

申請樣機

特點

溫度范圍大，穩定性高
溫度控制范圍大：25-100 ℃
溫度穩定度高：<±0.1 ℃
測試效率高
雙測試載臺，支持雙側面并行測試
自動上下夾具，降低了人為參與的復雜性和出錯概率
極高的測試速度：每個CoC測試時間<9s
重復性高
閾值電流重復性：<±1%
功率重復性：<±1%
波長重復性：<±0.15 nm
SMSR重復性 <5 dB
擴展性高
支持直流或者脈沖電源驅動激光器
集成聯訊儀器精密源表

系統參數	芯片類型	CoC/CoS
	夾具類型	支持CoC老化系統相同的夾具
	夾具類型	標準 48 pcs 芯片夾具（可以定制）
	上下夾具	自動上下夾具
	夾具ID掃描識別	自動夾具Barcode掃描識別
	并行測試	CoC夾具雙側面并行測試
	標準樣品控制	軟件支持標準樣品管控功能。如果標準樣品在本機臺測試超過時間周期（可配置），系統自動告警
	測試機臺控制	軟件支持測試機臺管控功能，如果相同夾具在老化前后分別在不同的測試機臺進行測試，軟件會自動產生告警提示。
	測試配置管控	軟件支持測試配置管控，包括測試儀表，測試算法，測試序列，測試結果判斷等。
	測試數據	支持用戶要求的所有測試數據/支持MES相關的需求
電學指標	SMU類型	標準精密源表
	直流電流	3 A
	I/V 源分辨率	10 fA/100 nV
	I/V 測量分辨率	10 fA/100 nV
	電壓范圍	70 V
	脈沖電流	10 A
	EOS	無EOS（任何正常操作和使用條件下）
光學指標	光功率測量探測器類型	Ge
	光功率波長范圍	800-1700 nm
	光功率測量范圍	10 μW-300 mW（>25 mW需加衰減片）
	光功率測量精度	<0.2 dB
	光譜測量范圍	集成橫河AQ6360 或其他光譜儀
	光譜測量精度	集成橫河AQ6360 或其他光譜儀
	光功率耦合效率	耦合功率>-15 dBm
溫度控制指標	溫度控制方法	TEC
	溫度區域	2 個獨立的溫度控制區域（雙載臺）
	溫度范圍	25-100 ℃
	溫度變化速度（升溫/降溫）	20 ℃/分鐘
	溫度分辨率	0.01 ℃
	溫度精度	25-100 ℃: ±0.5 ℃+1%ΔT
	溫度一致性	<±0.5 ℃
	溫度穩定性	<±0.2 ℃
測試參數	Ith重復性	±1%
	功率重復性	±1%
	SE 重復性	±2%
	波長重復性	<±0.15 nm
	SMSR 重復性	<5 dB

同類推薦

光網絡測試

光通信網絡作為信息通信的基礎設施，對我國大數據、云計算、5G通信等市場的快速發展起重要的承載支撐作用，聯訊儀器光通訊儀表深度覆蓋光模塊光器件等核心產品的測試測量，包括采樣示波器，誤碼儀，波長計，光譜儀，流量儀以及通用光測量儀表等，提供經濟高效的完整解決方案。

Details

電性能測試

高精度源表集合電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載的功能于一身，廣泛應用于各類分立元器件，光伏，新能源，電池等行業的高精度測試測量，聯訊儀器提供高精度的臺式源表及標準PXIe機箱的插卡式PXIe源表模塊，充分滿足各種不同測試場景的應用。

Details

光芯片測試

激光器的老化及測試是保障激光器可靠性的重要方法，通過對COC或者裸die的測試，提早篩選出激光器生產過程中由于工藝工序的缺陷導致的激光器早期失效。聯訊儀器提供從裸die到COC，從高溫到低溫-40℃的完整解決方案。聯訊儀器的激光芯片老化測試方案已獲得市場廣泛認可。

Details

功率芯片測試

半導體前道檢測主要用于晶圓加工環節，目的是檢查每一步制造工藝后晶圓產品的加工參數是否達到設計的要求或者存在影響良率的缺陷，半導體后道測試設備主要是用在晶圓加工之后、封裝測試環節內，目的是檢查芯片的性能是否符合要求，屬于電性能的檢測。聯訊儀器提供晶圓老化及半導體參數測試機等集成解決方案，打破了國外企業的長期壟斷，不斷提升國產半導體設備的進口替代率。

Details

Site Map