TO6201-LD LD測試系統-蘇州聯訊儀器股份有限公司

激光器測試

TO6201-LD

LD測試系統

聯訊儀器 LD測試系統TO6201-LD 是專門針對TO-CAN封裝器件常溫和高溫性能的測試機。該系統支持常規的8x8 TO-CAN老化子板夾具（適配聯訊儀器TO4201 TO-CAN老化子板夾具），也可支持4x 16抽屜式老化夾具大功率器件測試，因此無需轉料（重新上下料），大大提升了測試速度，也降低了轉料增加的測試成本，確保了老化前后測試條件的一致性。

聯訊儀器 TO6201-LD 提供了極佳的測試重復性能，閾值電流重復性<1%。為了覆蓋不同TO-CAN封裝激光器測試，專門采用聯訊儀器精密源表，可以提供高達1A（脈沖3A）激光器驅動電流。這使得聯訊儀器 TO6201-LD 成為市場上TO-CAN器件測試的最佳選擇。

手冊CN

手冊EN

申請樣機

特點

電流范圍大，精度高
直流1A，脈沖3A；
測量精度高
電流精度高：0.03% 測量量程；
支持 nA 級別光電探測器暗電流測試；
溫度范圍廣：室溫，50~100°C
支持軟件切換不同類型TO-CAN器件管腳定義；
測量重復性高
閾值電流Ith重復性＜1%，功率重復性＜1.5%；
無EOS
任何工作條件下沒有EOS。

功能與優勢

功率重復性高
采用積分球以獲得更好的功率重復性測量

系統指標	被測器件類型	所有TO-CAN封裝器件
	老化子板夾具類型	支持常規TO-CAN 8x8老化子板夾具支持大功率LD TO器件4 x16抽屜式老化夾具支持聯訊儀器BI4201 TO老化系統子板夾具
	標準樣品控制	軟件支持標準樣品管控功能。如果標準樣品在本機臺測試超過時間周期（可配置），系統自動告警
	測試機臺控制	軟件支持測試機臺管控功能，如果相同夾具在老化前后分別在不同的測試機臺進行測試，軟件會自動產生告警提示
	測試配置管控	軟件支持測試配置管控，包括測試儀表，測試算法，測試序列，測試結果判斷等。
	測試數據	支持用戶要求的所有測試數據/支持MES相關的需求
電學指標	SMU類型	標準精密源表
	直流電流	1A
	I/V源分辨率	10fA/100nV
	I/V測量分辨率	10fA/100nV
	電壓范圍	10V
	脈沖電流	3A
	EOS	在任何正常工作條件下無EOS
光學指標	光功率測量探測器類型	InGaAs
	光功率波長范圍	800-1700nm
	光功率測量范圍	10uW-300mW
	光功率測量精度	<0.2dB
	光譜測量范圍	集成橫河AQ6360 或其他光譜儀
	光譜測量精度	集成橫河AQ6360 或其他光譜儀
	光功率耦合效率	耦合功率〉-15dBm@光譜測量
溫度控制指標	溫度控制方法	加熱板
	溫度范圍	室溫， 50-100°C
	溫度變化速度（升溫/降溫）	8°C/min
	溫度分辨率	0.1°C
	溫度精度	<±0.5°C
	溫度一致性	<±1.5°C（小于100°C）
	溫度穩定性	<±0.2°C
測試參數	Ith重復性	±1%
	功率重復性	±2%
	SE 重復性	±2%
	VF 重復性	±3%
	波長重復性	±0.1nm
	SMSR 重復性	±3dB

同類推薦

光網絡測試

光通信網絡作為信息通信的基礎設施，對我國大數據、云計算、5G通信等市場的快速發展起重要的承載支撐作用，聯訊儀器光通訊儀表深度覆蓋光模塊光器件等核心產品的測試測量，包括采樣示波器，誤碼儀，波長計，光譜儀，流量儀以及通用光測量儀表等，提供經濟高效的完整解決方案。

Details

電性能測試

高精度源表集合電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載的功能于一身，廣泛應用于各類分立元器件，光伏，新能源，電池等行業的高精度測試測量，聯訊儀器提供高精度的臺式源表及標準PXIe機箱的插卡式PXIe源表模塊，充分滿足各種不同測試場景的應用。

Details

光芯片測試

激光器的老化及測試是保障激光器可靠性的重要方法，通過對COC或者裸die的測試，提早篩選出激光器生產過程中由于工藝工序的缺陷導致的激光器早期失效。聯訊儀器提供從裸die到COC，從高溫到低溫-40℃的完整解決方案。聯訊儀器的激光芯片老化測試方案已獲得市場廣泛認可。

Details

功率芯片測試

半導體前道檢測主要用于晶圓加工環節，目的是檢查每一步制造工藝后晶圓產品的加工參數是否達到設計的要求或者存在影響良率的缺陷，半導體后道測試設備主要是用在晶圓加工之后、封裝測試環節內，目的是檢查芯片的性能是否符合要求，屬于電性能的檢測。聯訊儀器提供晶圓老化及半導體參數測試機等集成解決方案，打破了國外企業的長期壟斷，不斷提升國產半導體設備的進口替代率。

Details

Site Map