• <progress id="sy3fu"><bdo id="sy3fu"><strong id="sy3fu"></strong></bdo></progress><progress id="sy3fu"><bdo id="sy3fu"></bdo></progress>

    <menuitem id="sy3fu"><strong id="sy3fu"><u id="sy3fu"></u></strong></menuitem>

      <track id="sy3fu"><nobr id="sy3fu"><optgroup id="sy3fu"></optgroup></nobr></track>

    1. <samp id="sy3fu"></samp>
      1. <progress id="sy3fu"></progress>
        <samp id="sy3fu"></samp>
      2. Site Map

        網站地圖

        時鐘恢復

        CR4201

        10G 時鐘恢復單元


        聯訊儀器CR4201時鐘恢復模塊,用于從光信號中恢復時鐘。在一些測試場景中,待測信號只有光信號輸出,而沒有時鐘輸出,此時可借助CR4201恢復出與待測信號同步的時鐘信號。CR4201支持 1.25~10.3125 Gbps 速率范圍,并自動適配輸入信號速率,恢復出來的時鐘信號頻率是輸入信號速率的整數分頻,且分頻比可調。


        特點

        • 速率自適應

          1.25Gbps~10.3125Gbps 速率自適應
        • 單多模一體機

          同時支持單模和多模光信號時鐘恢復
        • 高靈敏度

          單模多模最小光功率 -20dBm
        • 可調環路帶寬

          500K~3.5M 環路帶寬可調

        功能與優勢

        • 軟件功能

          聯訊儀器 CR4201 的界面 GUI 非常直觀和簡潔,可輕松配置系統。
        時鐘恢復速率范圍 1.25~10.3125 Gbps (自適應) 
        光接口FC/UPC
        輸入功率 >-20 dBm
        觸發時鐘分頻輸出 1/2, 1/4, 1/8, 1/16
        輸出幅度 200~600 mV

        時鐘輸出電口特征阻抗

        50 Ω

        輸出上升/下降時間(20%~80%) <100 ps

        PLL 帶寬抖動傳遞函數


        500 kHz/1 MHz/1.5 MHz/2.0 MHz/2.5 MHz/3.0 MHz/3.5 MHz


        抖動峰值 0.01dB @ OC-3/ OC-12
        0.014dB @ OC-48/8GFC/OC-192
        抖動容限 滿足標準規范要求
        輸出抖動 <4.5mUI @ OC-192
        <5mUI @ 8GFC
        <2.5mUI @ OC-48,12kHz to 20MHz
        <0.7mUI @ OC-12,12 kHz to 5 MHz
        <0.2mUI @ OC-3,12 kHz to 1.3 MHz
        電源


        電壓范圍:100-240 VAC,頻率范圍:50/60 Hz

        最大功率:250 W,保險絲規格:T3.15AL 250 VAC



        同類推薦

        光網絡測試
        光網絡測試

        光通信網絡作為信息通信的基礎設施,對我國大數據、云計算、5G通信等市場的快速發展起重要的承載支撐作用,聯訊儀器光通訊儀表深度覆蓋光模塊光器件等核心產品的測試測量,包括采樣示波器,誤碼儀,波長計,光譜儀,流量儀以及通用光測量儀表等,提供經濟高效的完整解決方案。

        Details
        電性能測試
        電性能測試

        高精度源表集合電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載的功能于一身,廣泛應用于各類分立元器件,光伏,新能源,電池等行業的高精度測試測量,聯訊儀器提供高精度的臺式源表及標準PXIe機箱的插卡式PXIe源表模塊,充分滿足各種不同測試場景的應用。

        Details
        光芯片測試
        光芯片測試

        激光器的老化及測試是保障激光器可靠性的重要方法,通過對COC或者裸die的測試,提早篩選出激光器生產過程中由于工藝工序的缺陷導致的激光器早期失效。聯訊儀器提供從裸die到COC,從高溫到低溫-40℃的完整解決方案。聯訊儀器的激光芯片老化測試方案已獲得市場廣泛認可。

        Details
        功率芯片測試
        功率芯片測試

        半導體前道檢測主要用于晶圓加工環節,目的是檢查每一步制造工藝后晶圓產品的加工參數是否達到設計的要求或者存在影響良率的缺陷,半導體后道測試設備主要是用在晶圓加工之后、封裝測試環節內,目的是檢查芯片的性能是否符合要求,屬于電性能的檢測。聯訊儀器提供晶圓老化及半導體參數測試機等集成解決方案,打破了國外企業的長期壟斷,不斷提升國產半導體設備的進口替代率。

        Details
        登錄后 立即下載!

        賬號

        密碼

        注冊賬號 立即下載!

        姓名

        請輸入您的姓名 *

        郵箱地址

        請輸入您的郵箱地址 *

        郵箱驗證碼

        請輸入您的郵箱驗證碼

        電話

        請輸入您的聯系電話 *

        密碼

        請輸入您的登錄密碼 *

        確認密碼

        請再次輸入您的登錄密碼 *
        找回密碼

        郵箱地址

        請輸入您的郵箱號 *

        郵箱驗證碼

        請輸入您的郵箱驗證碼

        新密碼

        請輸入您的登錄密碼 *

        確認密碼

        請再次輸入您的登錄密碼 *
        啪啪啪视频高清