PB6400 KGD測試分選系統-蘇州聯訊儀器股份有限公司

功率芯片測試

PB6400

KGD測試分選系統

聯訊儀器 PB6400 KGD測試分選系統主要應用于功率芯片Die級靜態與動態測試，以實現對芯片性能指標的篩選，提高封裝后模塊端的成品良率。測試項目、測試條件以及測試參數可根據客戶要求配置對應規格測試機，支持定制化開發。系統支持多種芯片包裝方式，比如藍膜、Gelpak、Waffle Pack以及Tape&Reel等。

手冊CN

手冊EN

申請樣機

特點

設計靈活設計
Handler部分(PB6400)與測試部分分離，可擴展性強
多路并行測試
最多支持四個測試站，不同測試站支持不同測試條件與測試項目
支持動靜態參數測試
支持 2000V/200A 靜態測試，2000V/1000A 動態測試
溫度均勻性高
均勻性±0.5℃，準確性<0.5℃，分辨率 0.1℃

參數	指標
適用產品	SiC 芯片
圓片尺寸	4寸，6寸，8寸
靜態參數	Vds,Vth,Idss,Igss,Rds(on),Vsd
動態參數	Eas,Rint,Ciss,Coss,Crss,Eoss
開關參數	Isc,Td(on),Tr,Tf(off),Tf,Eon,Eoff,Trr,Qrr,Irrm
系統功耗	<10kW
氮氣保護	>0.6mPa接入
溫度范圍	常溫-200℃
AC測試位數量	支持定制測試工位數量
DC測試位數量	支持定制測試工位數量
電流電壓過沖	任何情況下沒有過沖
MES對接	支持MES對接

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